仪器用途一
翻新及二手器件检测
• 可由仓库部门在收到集成电路时进行检查, 以确保收到的集成电路是真品; 商品输入部门的员工不需要电子知识即可操作这个系统。
• 检查可能伪造的集成电路, 并分析供货商的测试数据。用户可应用完整的报告, 确定问题的来源。
翻新及二手器件检测仪
能快速简单检测出翻新IC及集成电路测试的解决方案。
透过精密的PinPrint(针印)测试算法则,能够辨识出有不同内部结构或根本没有结构, 甚至是由不同厂家所制造的集成电路。
他就像您的电子守卫, 守卫在您生产设备之入口, 不受伪造元器件之渗透伤害。
何谓伪造翻新集成电路
Counterfeit [koun-ter-fit](形容词): 意思是仿造, 以便虚伪不实地假装是真品。
制造膺品(仿冒品)集成电路是非法的, 会出现(仿冒品)是因为电子零件的可转让。全球任何需要制造PCB集成电路的公司都在承担这个风险, 也或许曾经收到过大批的”不良”元器件。
仿冒可透过各种过程达成: 在极不可靠的过程里, 把集成电路从报废/弃置的电路板中取出, 接着作表面处理维修; 再加上伪相关信息于集成电路上, 包括制造厂商标, 然后拿来当作真品卖给粗心的买家。另一个方法则是真的凭正规的制造能力, 在标准工时以外的大夜班(ghost shift)生产集成电路, 然而, 以那种方式生产的芯片含有许多制造上的瑕疵, 有些甚至没有硅片(silicon die)。
很不幸地, 得一直等到把它们放在PCB上, 在生产团队对完整的组装进行第一次测试时, 才可能鉴别到仿造的集成电路。如此将导致昂贵的过程－辨识问题集成电路、再把它们从生产中的所有电路板上拿掉。在某些情况下, 甚至得把整批成品回收回工厂。
5年来, 仿冒集成电路的举发呈倍数地增加; 2008年, 仿冒IC的出口量占全球贸易总额的8%以上, 相当于损失60亿的销售额。
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测试适用范围： 元器件测试-适用于所有类型的集成电路的测试和元器件的筛选测试
电路板测试-适用各种电路板的检测（附加测试电缆线和各种封装的测试夹）
测试原理（v-i曲线测试）：
对元器件的每个管脚施加一个安全的低功率的扫描驱动信号，产生一个阻抗特征图，以备对比和存储。
被测器件和数据库中标准动态阻抗图相比对，阻抗图的差异大小即可判断元件的好坏和可用性。
测试信号可设定的参数包括: 电压、波形、源电阻、频率。可根据需要进行调整以便得到准确的信息。
集成电路测试操作如此简单:
1.从数据库选择要测试的集成电路型号.
2.将集成电路插入测试座.
3.执行测试
4.得到PASS或FAIL的测试结果.
不需要电子专业知识.
适用于所有集成电路/封装件.及各种类型电路板
灵活、好安装、宜操作.
测试结果直接: PASS或FAIL.
软件可设定各种测试条件.
可提供完整的元件测试分析报告.
适合不同封装形式的元件:
-双列插脚(DIL)
-小型封装集成集成电路(SOIC)
-小型封装(SSOP, TSOP)
-塑料无引线芯片载体封装(PLCC)
-四方扁平封装(TQFP, PQFP, LQFP)
-球门阵列封装(BGA)
注意:AT系列不受限于只能测试电子集成电路, 也可用于整个模块。
测试通道
标准提供多达128个测试通道, 可设定用于不同的元器件封装。
升级模块：64通道
可扩充到192/256个测试通道。
用两种模式扫瞄:
•一般模式: 扫描信号是以一固定管脚为参考点, 测试信号施加到待测元器件上。
•矩阵模式: 扫描信号是以元器件的各个管脚为参考点, 测试信号循环组合施加到待测元器件上。
数据库
用户可根据自己的需要，用性能完好的器件创建ic的测试数据库，以备日后测试使用。创建一个测试库仅需要数秒的操作时间，操作十分简单容易。
结果比较型式:
将数据库中的IC与待测ic的V-I曲线相比较, 即可判定被测IC的好坏,提供两种比较型式:
•与数据库中元件比较: 被测IC的V-I曲线与数据库中的相同型号的IC比较
• 被测IC之间比较比较: 多个集成电路的之间的V-I曲线相比较。
软件- 灵活性
1)软件提供测试库图形化修改功能，以方便用户制作不同新封装形式器件的测试库,
2)软件可以自定义各个通道的使用，一台机器可以同时检测多个器件
报告
1）软件可产生一详细的测量报告, 包含集成电路相片。这份报告可用于深入分析好坏集成电路的差异具体原因。
2）用户可处理集成电路的各种信息; 集成电路的动态阻抗图可储存在pc中，并可随时读出, 以与新的扫瞄阻抗图作比较。
3）为了今后使用方便, 可在集成电路的存储数据文件夹内增加其它信息, 包括:相片、PDF文件或甚至文字与电子表格。
转接器
1）标准型:
用于SOIC、SSOP、TSOP及PLCC封装; 也有提供AT系列校正工具组。
通用型:
用于SOIC及PLCC封装; 一个转接器即适用于各种芯片尺寸, 测试有20、28、32、44、52、68、84脚的集成电路。
客制型:
可订制各种封装的转接器, 包括: BGA、QFP; 请进一步洽询, 以设计符合您需求的转接器。
技术规格
技术参数:AT256
| 扫描测试波形 | 正弦波,锯齿波，三角波 |
| 扫描测试频率 | 6种频率供选择:100Hz,200Hz,500Hz,1KHz,2KHz,5KHz |
| 扫描电压(Vs) | 4种峰值电压选择:-20~+20V 步进0.1V |
| 扫描源电阻(Rs) | 3种电阻供选择:1kΩ, 10kΩ,100kΩ |
| 扫描通道 | AT128通道数量:128通道 AT192通道数量:192通道 AT256通道数量:256通道 显示模式:VI曲线图 扫描模式:手动或连续, 或自行设定扫描次数 |
| 扫瞄模式 | 一般模式:扫描信号是以一固定管脚为参考点,测试信号施加到待测元器件上. 矩阵模式:扫描信号是以元器件的各个管脚为参考点,测试信号循环组合施加到待测元器件上. |
| 电脑连接 | USB 连接电脑使用,标准配置含上位机软件 |
| 适合不同封装形式元件: | 适合不同封装形式的元件: -双列插脚(DIL) -小型封装集成集成电路(SOIC) -小型封装(SSOP, TSOP) -塑料无引线芯片载体封装(PLCC) -四方扁平封装(TQFP, PQFP, LQFP) -球门阵列封装(BGA) 注意:AT系列不受限于只能测试电子集成电路, 也可用于整个模块及电路板。 |
| 测试报告 | 可自行编辑测试报告 |
| 功率需求 | 线路电压:85～264VAC 频率:47～63Hz 功率:最大150W |
| 尺寸/重量 | 尺寸:27x25x9cm;重量:3.5kg |
| 操作温度.湿度 | 温度:10°C～30°C湿度: 20～80% RH。 |
| 保修期 | 一年 |
| 认证 | CE认证& RoHS合格。 |
| 计算机规格需求 | Microsoft Windows XP或Vista, Pentium 4或更高 最小的RAM:512 MB 硬盘空间:200MB USB2.0高速传输 鼠标,键盘与屏幕 |
| 标准配件: | 用户手册。 USB导线。 软件CD(含驱动程序与操作手册)。 |
| 选购配件: | 校正工具组。 各种转接器。 |
最大测试管脚数:256
测试适用范围：
元器件测试-适用于所有类型的集成电路的测试和元器件的筛选测试
电路板测试-适用各种电路板的检测（附加测试电缆线和各种封装的测试夹）